SID4波前传感器

   日期:2022-10-17 17:45:07     浏览:27    
核心提示:基于Phasics四波横向剪切干涉技术,SID4波前分析仪具备了很高的的相位和强度分辨率(160x120测量点),且使用简便。SID4-HR 光学器件测量自适应光学phasics SID4波前传感器特点:由于其的技术,Phasics的SID4波前传感器具备以下特点:1.超高分辨率:160x120测量点2.直接测量发散和准直光束3.从400到1100nm消色差4

基于Phasics四波横向剪切干涉技术,SID4波前分析仪具备了很高的的相位和强度分辨率(160x120测量点),且使用简便。

SID4-HR     光学器件测量    自适应光学


phasics SID4波前传感器特点:

由于其的技术,Phasics的SID4波前传感器具备以下特点:

1.超高分辨率:160x120测量点

2.直接测量发散和准直光束

3.从400到1100nm消色差

4.自校准:振动不敏感和容易对齐

5.紧凑,体积小


phasics SID4波前传感器应用:

SID4波前传感器提供新的可能性应用:

激光:光束诊断、自适应光学

光学:精密透镜测试和表面测量

生物学:显微自适应光学 


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http://www.eachwave17.cn/Products-37202980.html 
https://www.chem17.com/st326217/product_37202980.html 

 
 
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