涂层测厚仪紧凑且耐用的台式仪器，采用X射线荧光法进行无损的材料分析。
镀层测厚仪特点：
•紧凑且耐用的台式仪器，采用X射线荧光法进行无损的材料分析
•硬件和软件都是针对黄金和贵金属分析进行优化的
•样品放置简便，采用了宽敞的测量舱和自下往上的测量方向
•符合标准EN61010,DINISO3497和ASTMB568
•有4个型号适合于所有测量应用：GOLDSCOPESD510,GOLDSCOPESD515,GOLDSCOPESD520,GOLDSCOPESD550
•510/515型号配有硅PIN探测器
•520/550型号配有硅漂移探测器，可在测量相近元素时提供更高的分辨率
•FISCHERWinFTM®软件中已配有分析贵金属的测量程式
镀层测厚仪应用：
•在测试实验室中无损分析珠宝、钱币及贵金属
•黄金的购买和销售
•贵金属分析，牙医用合金材料
•认证：精炼厂、金属货币检验室、金属品质证明
•银器或黄金合金上的铑镀层厚度测量
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